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                                                    基礎信息Product information

                                                    產(chǎn)品名稱(chēng):涂層測厚儀

                                                    產(chǎn)品型號:ED400

                                                    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

                                                    ED400 涂層測厚儀渦流測厚儀ED400是ED300渦流測厚儀的改進(jìn)型,ED400性能大幅度提升,專(zhuān)業(yè)銷(xiāo)售各類(lèi)渦流測厚儀并負責儀器的售后與維修,多年銷(xiāo)售經(jīng)驗積累為您提供高效優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

                                                    產(chǎn)品特性Product characteristics

                                                    ED400 涂層測厚儀

                                                    渦流測厚儀ED400ED300渦流測厚儀的改進(jìn)型,儀器性能大幅度提高。
                                                          

                                                    便攜式ED400渦流測厚儀(也稱(chēng)涂層測厚儀、氧化膜測厚儀)適用于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。渦流測厚儀ED400采用磁性測厚方法,可無(wú)損地測量磁性金屬基體(如:鋼、鐵、鎳)上非磁性覆層的厚度(如:鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等),本儀器能廣泛地應用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測領(lǐng)域。
                                                      渦流測厚儀ED400適于在生產(chǎn)現場(chǎng)、銷(xiāo)售現場(chǎng)或施工現場(chǎng)對產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查,可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監督檢驗。
                                                          儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
                                                     儀器特點(diǎn)
                                                      渦流測厚儀ED400ED300型相比,具有如下特點(diǎn):
                                                    *量程寬   ED400量程達到0~500μm。
                                                    *精度高   ED400型的測量精度達到2%。
                                                    *分辨率高   ED400型的分辨率達到0.1μm。
                                                    *校正簡(jiǎn)便   只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內保證設計精度。
                                                    *基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測量誤差不大于1~2μm。
                                                    *可靠性提高    渦流測厚儀ED400采用高集成度、高穩定性電子器件,電路結構優(yōu)化,儀器可靠性顯著(zhù)提高。
                                                    *穩定性提高   采用*溫度補償技術(shù),測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現場(chǎng)長(cháng)期使用。
                                                    *探頭線(xiàn)壽命長(cháng)   采用德國進(jìn)口的,在德國測厚儀上使用的探頭線(xiàn),探頭線(xiàn)壽命可大大延長(cháng)。
                                                    *探頭芯壽命長(cháng)    采用高強度磁芯材料,微調了探頭設計,探頭芯壽命可大大延長(cháng)。
                                                    *探頭可互換   外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)需返廠(chǎng)維修。
                                                    渦流測厚儀ED400技術(shù)參數:
                                                    測量范圍:     0~500μm
                                                    測量精度:     0~50μm:±1μm;
                                                                        50~500μm:±2%
                                                    分辨率:     0~50μm:0.1μm、
                                                                        50~500μm:1μm;
                                                                        0~500μm:1μm(可選)
                                                    使用溫度:     5~45℃
                                                    外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
                                                    重      量:     260g

                                                    渦流測厚儀ED400配置與選配:

                                                    標準配置

                                                    主機            1臺
                                                    探頭            1支
                                                    基體            1塊(6063合金)
                                                    校正箔片      1片(約50μm,附檢測報告)
                                                    使用說(shuō)明書(shū)   1份
                                                    合格證         1份
                                                    保修單         1份   
                                                    手提式儀器箱1個(gè)

                                                     可選附件

                                                    備用探頭
                                                    基體
                                                    校正箔片(約50μm,附檢測報告)

                                                      

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